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常见的透明光学元件材质表面缺陷检测原理
透明光学元件质量缺陷检测是采用先进的CCD成像技术和智能光源。系统照明采用背光式照明，即在透明光学元件的背面放置光源，光线经待检透明光学元件，透射进人摄像头。
光线垂直入射透明光学元件后，当透明光学元件中没有杂质时，出射的方向不会发生改变，CCD摄像机的靶面探测到的光也是均匀的；当透明光学元件中含有杂质时，出射的光线会发生变化，CCD摄像机的靶面探测到的光也要随之改变。
透明光学元件中含有的缺陷主要分为两种：一是光吸收型（如砂粒、夹锡夹杂物），光透射透明光学元件时，该缺陷位置的光会变弱，CCD摄像机的靶面上探测到的光比周围的光要弱；二是光透射型（如裂纹、气泡等），光线在该缺陷位置发生了折射，光的强度比周围的要大，因而CCD摄像机的靶面上探测到的光也相应增强。
IR-Cut filter透明光学元件检测设备是基于透明光学元件检测产品的生产现状，对现有劳动力密集的人工品质检测工艺环节进行自动化改造，通过研究设计一款透明光学元件检测表面品质自动化检测和分拣设备来替代人工检测。
透明光学元件检测设备系统性能参数：
1，能实现对透明光学元件检测的双面检测；
2，能自动识别崩边、划伤、灰尘和点子、印子等四种表面缺陷特征；
3，具备次品自动分拣功能；
4，检测精度达到10μm；
5，检测速度达到180片/分钟。